Microscopio electrónico de barrido-MEB

bigviitugfa 210 views 15 slides Sep 29, 2019
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About This Presentation

Microscopio electrónico de barrido-MEB
NADA ES DE MI AUDITORIA, SOLO SOY UN RECOPILADOR DE INFORMACIÓN


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Universidad veracruzana

UNIVERSIDAD VERACRUZANA Facultad de Bioanálisis Campus Veracruz E.E : Instrumentación avanzada Tema : MEB Equipo 3 : Perea Tavera Marino Bigvai

Fundamento Electrones son emitidos por un cátodo de tungsteno pasando a través de una columna con vacío de alrededor de 10-7 Torr. Haz concentrado por una serie de lentes electromagnéticas 25,000 nm- 50,000 nm hasta hacerse puntual. El haz puntual se desplaza sobre toda la superficie a manera de pincel idas-venidas gracias a la bobina de barrido. Lente electromagnética

Recubrimiento de muestras en alto vacío spputtering

Condiciones de la muestra Muestras secas, conductoras y muertas . El proceso de secado ha de llevarse a cabo preservando al máximo la estructura original de la muestra. En ambos casos la muestra necesita recubrirse después con un material que la haga conductora y permita su observación en el microscopio. Recubrimiento de oro para mejorar la condición de la imagen . Recubrimiento con hilo de carbono para microanálisis de rayos X . “spputtering”

Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) Muestra Lente Objetivo

Interacción haz superficie muestra Captados por un detector Los e inciden sobre un scinllator Cada e dará varios fotones serán dirigidos a un fotomultiplicador Formación fotoelectrón Los dinodos formaran e secundarios Amplificación de la información sobre la muestra suministrada de e Proceso formación de la imagen

Formación de la imagen la imagen será dividida en muchos elementos fotográficos los cuales serían captados por el sistema fotográfico instalado en el instrumento e integrados en una sola imagen que nos informa sobre la apariencia cúbica de material en estudio. Las señales de interés son aquellas compuesta por e secundarios y los reflejados. Estos serán recogidos por el detector en términos de brillos y oscuros sobre la pantalla del ORC.

Ejemplos

Observación de muestras crio fijadas crio-SEM

Las técnicas de crio preparación de muestras para la microscopía electrónica de barrido son esenciales para la observación de especímenes húmedos o sensibles al haz de electrones . El crio-SEM permite la observación de los especímenes en su estado natural , evitando encogimientos, distorsiones y el uso de los agentes tóxicos requeridos para la fijación de materiales biológicos. Es una técnica excelente para la observación de líquidos o semilíquidos en el microscopio electrónico de barrido. -180 oC

Pulverización catódica comienza cuando un sustrato a recubrir se coloca en una cámara de vacío que contiene un gas inerte , generalmente argón , y se aplica una carga negativa a un material fuente objetivo que se depositará sobre el sustrato y hará que el plasma brille. Los átomos de gas inerte se convierten en iones con carga positiva atraídos por el material objetivo cargado La pulverización catódica está causada principalmente por el intercambio de momento entre los iones y los átomos del material, debido a colisiones. la pulverización mediante iones de muy alta energía o iones pesados altamente cargados que transfieren energía al sólido principalmente mediante una irradiación de partículas en la que la excitación electrónica produce la pulverización .

Comparación de TEM y SEM

Desventajas: