34
29. Chidsey, C. E. D. Science 1991, 251, 919-922.
30. Sachs, S. B.; Dudek, S. P.; Hsung, R. P.; Sita, L. R.; Smalley, J. F.;
Newton, M. D.; Feldberg, S. W.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc.
1997, 119, 10563-10564.
31. Sikes, H. D.; Smalley, J. F.; Dudek, S. P.; Cook, A. R.; Newton, M. D.;
Chidsey, C. E. D.; Feldberg, S. W. Science 2001, 291, 1519-1523.
32. Fan, F.-R. F.; Yang, J.; Dirk, S. M.; Price, D. W.; Kosynkin, D.; Tour, J.
M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 2454-2455.
33. Creager, S.; Yu, C. J.; Bamdad, C.; O'Connor, S.; MacLean, T.; Lam, E.;
Chong, Y.; Olsen, G. T.; Luo, J.; Gozin, M.; Kayyem, J. F. J. Am. Chem.
Soc. 1999, 121, 1059-1064.
34. Mann, B.; Kuhn, H. J. Appl. Phys. 1971, 42, 4398-4405.
35. Vuillaume, D.; Boulas, C.; Collet, J.; Davidovits, J. V.; Rondelez, F. Appl.
Phys. Lett. 1996, 69, 1646-1648.
36. Wong, E. W.; Collier, C. P.; Behloradsky, M.; Raymo, F. M.; Stoddart, J.
F.; Heath, J. R. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 5831-5840.
37. Metzger, R. M. Acc. Chem. Res. 1999, 32, 950-957.
38. Slowinski, K.; Fong, H. K. Y.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121,
7257-7261.
39. Chen, J.; Wang, W.; Reed, M. Α.; Rawlett, A. M.; Price, D. W.; Tour, J.
M. Appl. Phys. Lett. 2000, 77, 1224-1226.
40. Collier, C. P.; Matterstei, G.; Wong, E. W.; Luo, Y.; Beverly, K.;
Sampaio, J.; Raymo, F. M.; Stoddart, J. F.; Heath, J. R. Science 2000,
289, 1172-1175.
41. Vuillaume, D.; Chen, B.; Metzger, R. M. Langmuir 1999, 15, 4011-4017.
42. McCarty, G. S.; Weiss, P. S. Chem. Rev. 1999, 99, 1983-1990.
43. Datta, S.; Tian, W.; Hong, S.; Reifenberger, R.; Henderson, J. I.; Kubiak,
C. P. Phys. Rev. Lett. 1997, 79, 2530-2533.
44. Bumm, L. Α.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.;
Jones, L., II; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271,
1705-07.
45. Bumm, L. Α.; Arnold, J. J.; Dunbar, T. D.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J.
Phys. Chem. B 1999, 103, 8122-8127.
46. Salmeron, M.; Neubauer, G.; Folch, Α.; Tomitori, M.; Ogletree, D. F.;
Sautet, P. Langmuir 1993, 9, 3600-3611.
47. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 2970-2971.
48. Joachim, C.; Gimzewski, J. K. Chem. Phys. Lett. 1997, 265, 353-357.
49. Rueckes, T.; Kim, K.; Joselevich, E.; Tseng, G. Y.; Cheung, C.-L.; Lieber,
C. M. Science 2000, 289, 94-97.
50. An analogous experimental system has been used for the study of the
capacitance of thin oxide films and is referred to as a "mercury probe."
Such devices are commercially available. September 12, 2012 | http://pubs.acs.org Publication Date: February 20, 2003 | doi: 10.1021/bk-2003-0844.ch003 In Molecules as Components of Electronic Devices; Lieberman, M.; ACS Symposium Series; American Chemical Society: Washington, DC, 2003.